Descripción
Sus ZEISS SIGMA FE-SEM para imágenes de alta calidad y microscopía analítica avanzada
ZEISS Sigma 300 ofrece excelencia en precio y rendimiento. Logre su análisis elemental de manera rápida y conveniente con la mejor geometría EDS de su clase de ZEISS Sigma 500. Cuente con resultados precisos y reproducibles, de cualquier muestra, en todo momento.
Detección flexible para imágenes claras
- Adapte Sigma a sus necesidades utilizando la última tecnología de detección y caracterice todas sus muestras.
- Adquiera información topográfica y de composición con el detector opcional InLens Duo.
- Disfrute de una nueva generación de detectores de electrones secundarios (SE). Obtenga imágenes con hasta un 50% más de señal. Benefíciese de los nuevos detectores C2D y VPSE de Sigma en modo de presión variable: trabajando a bajo vacío, puede esperar imágenes nítidas con hasta un 85% más de contraste.
Automatice y acelere su flujo de trabajo
- Un flujo de trabajo de 4 pasos le permite controlar toda la funcionalidad de su Sigma. Benefíciese de una rápida obtención de imágenes y ahorre tiempo en la formación, especialmente en un entorno multiusuario.
- Primero, navegue por su muestra y luego configure las condiciones óptimas para la obtención de imágenes.
- A continuación, adquiera imágenes automáticamente en varias muestras utilizando regiones de interés (ROI). Finalmente, use el último paso del flujo de trabajo para la visualización contextual de sus resultados.
Acelere los análisis de rayos X con la mejor geometría EDS de su clase.
- Realizar microscopía analítica avanzada
- Combine microscopía electrónica de barrido y análisis elemental: la mejor geometría EDS de Sigma aumenta su productividad analítica, especialmente en muestras sensibles al haz.
- Obtenga datos analíticos a la mitad de la corriente de la sonda y al doble de velocidad.
- Obtenga análisis completos y sin sombras en su FE-SEM. Benefíciese de utilizar una distancia de trabajo analítica corta de 8,5 mm y un ángulo de despegue de 35 °.
ZEISS Familia Sigma en funcionamiento:
Imagen 1.- Matriz de microlentes de un sensor CCD, fotografiado con ETSE.
Imagen 2.- Mineral de sulfuro de níquel. Mapa mineralógico generado a partir de una imagen de retrodispersión y un mapa EDS.
Imagen 3.- Carbonato de lantano, fotografiado a 1 kV a alto vacío con Inlens Duo BSE.
Imagen 4.- Recubrimiento en polvo en aerosol de metal Ni-Cr-Fe con imágenes de 4 kV con HDBSD.
