Descripción
Su sistema de rayos X para hoy con seguridad para el mañana
ZEISS Xradia Context es un sistema de micro tomografía computarizada de rayos X 3D no destructivo y de gran campo de visión. Con un escenario robusto y un posicionamiento flexible de la fuente / detector controlado por software, puede obtener imágenes de muestras grandes, pesadas (25 kg) y altas en su contexto 3D completo, así como muestras pequeñas con alta resolución y detalle.
Obtenga datos 3D sobre componentes electrónicos intactos completos, muestras grandes de materias primas o muestras biológicas.
Realice un análisis de fallas no destructivo para identificar defectos internos sin cortar su muestra o pieza de trabajo.
Caracterice y cuantifique las heterogeneidades que definen el rendimiento en sus materiales, como porosidad, grietas, inclusiones, defectos o fases múltiples.
Realizar estudios evolutivos 4D, mediante tratamiento ex situ o manipulación de muestras in situ.
Conéctese al entorno de microscopía correlativa de ZEISS y realice imágenes 3D no destructivas para identificar regiones de interés para obtener imágenes de microscopía electrónica 2D o 3D de alta resolución posteriores.
Imágenes 3D de contexto completo
- Resuelva los detalles finos en su contexto 3D completo, incluso dentro de un volumen de imagen relativamente grande con un detector de alta densidad de píxeles de seis megapíxeles.
- Maximice el aumento geométrico con muestras pequeñas para identificar y caracterizar estructuras a escala de micrones con alto contraste y claridad.
- Monte y alinee sus muestras rápidamente o amplíe su sistema con un autocargador opcional para el manejo automatizado y el escaneo secuencial de hasta 14 muestras. Aproveche un flujo de trabajo de adquisición optimizado, tiempos de exposición rápidos y reconstrucción de datos.
- Consiga hasta 10 veces más rápido con calidad de imagen
Basado en la plataforma probada de Xradia
- Con Xradia context microCT se beneficia de años de desarrollo, ya que se basa en la misma plataforma base que la serie Xradia Versa.
- Benefíciese de un sistema destinado a garantizar la estabilidad, avances en alta resolución, adquisición y reconstrucción de datos de alta calidad.
- El sistema de control Scout-and-Scan fácil de usar le proporciona un entorno de flujo de trabajo eficiente.
- Realice estudios 4D para medir cambios en la microestructura de materiales bajo condiciones variables.
Convertible a microscopía de rayos X (XRM)
- A medida que evolucionan sus necesidades de obtención de imágenes, también debería evolucionar su instrumento: Xradia Context se une ahora a la cartera de imágenes de rayos X de ZEISS, beneficiándose del compromiso continuo de ZEISS de ampliar las capacidades y la funcionalidad de sus sistemas en el campo.
- Esto abre la obtención de imágenes tomográficas en 3D que están listas para crecer con sus necesidades: su Xradia Context microCT es el único microCT que se puede convertir en cualquier momento en un microscopio de rayos X 3D (XRM) ZEISS Xradia 5XX Versa.
- Agregue el kit de interfaz in situ y cargue las etapas para investigar la evolución del material en 4D.
- Agregue FPX (extensión de pantalla plana) para obtener flexibilidad y rendimiento en resolución espacial y métodos avanzados de contraste y adquisición.
Estos módulos opcionales son soluciones basadas en estaciones de trabajo para facilitar el acceso y la usabilidad.
OptiRecon de ZEISS
Resultados similares, 4 veces más rápidos
ZEISS OptiRecon es una implementación de reconstrucción iterativa que aumenta enormemente el rendimiento de la adquisición, al tiempo que optimiza la calidad de la imagen.
ZEISS OptiRecon le permite lograr una buena calidad de imagen con aproximadamente una cuarta parte del tiempo de adquisición de datos para muchas muestras que se encuentran típicamente en los campos de investigación de energía académica e industrial, ingeniería, recursos naturales, biológicos, semiconductores, fabricación y electrónica.
ZEISS DeepRecon
Rendimiento de imágenes hasta 10 veces más rápido para muestras repetitivas
ZEISS DeepRecon para ZEISS Xradia XRM es la primera tecnología de reconstrucción de aprendizaje profundo disponible comercialmente. Le permite aumentar el rendimiento en un orden de magnitud (hasta 10X), sin sacrificar la novedosa resolución XRM a distancia, para aplicaciones de flujo de trabajo repetitivo. DeepRecon aprovecha de forma única las oportunidades ocultas en big data generados por su XRM y proporciona una mejora significativa de la velocidad o la calidad de la imagen impulsada por la IA.
ZEISS Xradia Context en funcionamiento
Ciencia de los materiales, ingeniería, geociencia y más
Atienda una variedad de necesidades en su laboratorio central o de I + D hoy (ciencia de materiales, ingeniería, geociencia, ciencias de la vida y más) y esté listo para expandir sus capacidades cuando se desarrollen sus necesidades de imágenes. Xradia Context proporciona imágenes 3D para aplicaciones en los campos de materiales, investigación de la vida y geociencias, caracterización de materias primas y análisis de fallas de fabricación y ensamblaje y control de calidad.
Imagen 1.- Representación 3D de una bombilla de luz. El contexto se puede utilizar para realizar un escaneo completo de la muestra para verificar las estructuras internas o identificar defectos en la fabricación.
Imagen 2.- La vista en corte de la representación 3D de un embrión de ratón incrustado en estructuras internas de parafina es visible con alto contraste. Muestra cortesía del Hospital General de Massachusetts
Imagen 3.- Sección transversal virtual a través de una muestra de roca heterogénea que revela múltiples fases y porosidad
Imagen 4.- Sección transversal virtual a través de una batería de iones de litio reciclada y desempaquetada que revela daños en el colector de corriente y las capas de cátodo. Muestra cortesía del Prof. D.U Sauer y el Prof. E. Figgemeier, ISEA, RWTH Aachen University
Imagen 5.- Representación 3D de los resultados de un escaneo rápido de una pala de turbina para evaluar la geometría e inspeccionar defectos internos o grietas.
