Espectrómetro de fluorescencia de rayos X dispersivo en energía EDX-7000/8000 Shimadzu

Descripción

EDX-7000/8000

Los espectrómetros de fluorescencia de rayos X dispersivos en energía EDX-7000 y EDX-8000 ofrecen un excelente rendimiento que se suma a las destacables características de un software de análisis simple.

Las principales característica de estos nuevos modelos son que están equipados con un detector semiconductor de alto rendimiento que no necesita nitrógeno líquido y ofrecen niveles de recuento y resolución que superan las expectativas por sobre los equipos existentes en el mercado.

Los nuevos modelos de la serie EDX no solo permiten reducir los costos operativos, con un fácil mantenimiento, sino que además ofrecen una sensibilidad, resolución, precisión y rendimiento superior y son capaces de manejar una amplia gama de aplicaciones, independientemente de la industria.

Desde el análisis de detección de control de calidad para el cumplimiento con las directivas RoHS/ELV hasta los requisitos más sofisticados para el análisis de materiales generales en aplicaciones de investigación.

ALTA SENSIBILIDAD, ALTA VELOCIDAD Y ALTA RESOLUCIÓN

El detector SDD de alto rendimiento y su hardware optimizado logran un altísimo nivel de rendimiento nunca antes alcanzado.

GRAN CÁMARA DE MUESTRA

A pesar de su cuerpo compacto puede aceptar muestras de gran tamaño y de múltiples tamaños. Además, la cámara de observación de muestras y el colimador permiten análisis de muestras pequeñas.

FÁCIL DE USAR

El Software PCEDX-Navi permite una fácil operación desde el principio y muestra informes con un solo clic del mouse.

MÚLTIPLES APLICACIONES

QUÍMICA

Análisis de productos y materiales orgánicos e inorgánicos
Análisis de catalizadores, pigmentos, pinturas, cauchos y plásticos

MEDIOAMBIENTE

Análisis de suelos, efluentes, cenizas, filtros y partículas finas

FARMACÉUTICA

Análisis de catalizadores residuales de la síntesis
Análisis de impurezas y contenido extraño en ingredientes farmacéuticos activos

AGRICULTURA Y ALIMENTOS

Análisis de suelos, fertilizantes y plantas
Análisis de materias primas, control de elementos añadidos, y análisis de sustancias extrañas en alimentos

MATERIALES ELÉCTRICOS Y ELECTRÓNICOS

Monitoreo de halógenos y RoHS
Análisis de capa fina en semiconductores, discos, cristales líquidos y células solares

AUTOMÓVILES Y MAQUINARIA

Monitoreo de elementos peligrosos ELV
Análisis de composición, medición de espesor de laminado, y medición de peso de films creados por recubrimiento de conversion química (fosfatado, anodizado, etc.) para partes de máquinas

METALES FERROSOS Y NO-FERROSOS

Análisis del componente principal y de impurezas en materias primas, aleaciones, soldaduras y metales preciosos
Análisis de composición de escoria

MINERÍA

Análisis de grado para procesamiento de minerales

CERÁMICAS

Análisis de cerámicas, cemento, vidrio, ladrillos y arcilla

PETROQUÍMICA

Análisis de azufre en petróleo
Análisis de aditivos y elementos mezclados en lubricantes

OTROS

Análisis de composición de muestras arqueológicas y piedras preciosas
Análisis de metales pesados tóxicos en productos de uso cotidiano

Especificaciones

Principio de medición	Espectrometría de Fluorescencia de Rayos X
Método de medición	Dispersivo en energía
Tipos de muestras	Sólidas, líquidas o polvos
Rango de medición	11Na a 92U (EDX-7000), 6C a 92U (EDX-8000)
Dimensiones del equipo	460 mm ancho x 590 mm profundidad x 360 mm alto
Peso del equipo	45 kg
Dimensiones de la cámara de medición	300 mm ancho x 275 mm profundidad X approx 100 mm alto
Tubo de Rayos X	Target de Rh
Voltaje del tubo	4 a 50 kV
Corriente de tubo	1 a 1000 mA
Método de enfriamiento	Enfriador de aire (con ventilador)
Área de irradiación	Cambio automático en 4 pasos (1, 3, 5, y 10 mm diám)
Filtros primarios	5 tipos + ABIERTO con cambio automático (ABIERTO, #1, #2, #3, #4, y #5)
Tipo de detector	Detector semiconductor de silicio SDD (no requiere nitrógeno líquido)
Método de corriente	Digital filter count processing
Atmósfera de medición	Aire, vacío (opcional), helio (opcional)
Observación de la muestra	Cámara CMOS
Evacuación	Bomba rotatoria
Nivel de vacío	Menor a 50 Pa (sin muestra)
Tiempo de evacuación	2 minutos