Descripción
Equipos para análisis de superficies:
SPM 8100FM
Microscopio de sonda de barrido de alta resolución. Permite realizar observaciones de resolución ultra elevada en aire o líquidos, así como con capas de hidratación/solvatación en interfaces sólido-líquido.
SPM 9700HT
Microscopio de sonda de barrido (SPM) es un término genérico para microscopios que exploran superficies de muestra con una sonda extremadamente nítida para observar su imagen tridimensional o propiedades locales con grandes aumentos.
EPMA 8050G
Microanalizador por sonda de electrones equipado con un sistema óptico de electrones FE de última generación, que proporciona una resolución espacial sin precedentes en todas las condiciones de corriente del haz, desde condiciones de observación SEM de hasta 1 μA.
EPMA 1720
Tanto en el hardware como en el software se ha incorporado la tecnología más reciente para crear esta nueva generación de microanalizadores por sonda de electrones.
Al desempeño superior que los instrumentos de Shimadzu han tenido durante años -alta sensibilidad, gran precisión y alta resolución- se han agregado nuevas funciones para una operación más sencilla, lo que permite aprovechar al máximo las capacidades del instrumento.
Es lo suficientemente fácil de usar como para ser operado por principiantes, pero a la vez ofrece a los usuarios avanzados la posibilidad de realizar los análisis más complejos.
