EL PRIMER XRF CON MAPEO DE SUPERFICIES CON RESOLUCIÓN DE 250 ΜM !
Pionera en el análisis local y en mapeo de superficies y en el uso de tubos de rayos X de 4 kW con ventana delgada, Shimadzu presenta un nuevo modelo de espectrómetro secuencial dispersivo en longitudes de onda, con mejores prestaciones y más fácil de usar.
Primer equipo en el mundo con mapeo de resolución 250µm con análisis por dispersión de longitudes de onda (patentado). Esta característica le permite analizar distribución de contenido y distribución de intensidades de muestras no uniformes.
Opcional: Sistema de observación con cámara CCD
Características
PRINCIPALES VENTAJAS
Análisis cualitativo y cuantitativo utilizando rayos X de órdenes superiores lo que otorga mayor sensibilidad. En la figura se observan los perfiles usando rayos X de primer orden (línea azul) y de orden superior (línea roja).
Medición de espesor de películas delgadas y análisis de compuestos inorgánicos en películas de alto polímero usando el método de parámetros fundamentales (FP) con corrección de ruido (patentado).
Tubo de rayos X de 4kW y ventana delgada, de mayor confiabilidad y vida útil. Comparado con el tubo convencional de 3kW, la sensibilidad es el doble para elementos livianos.
Sistema de carga de muestra tipo pendular
Barrido ultra-rápido (300°/min) que posibilita análisis cualitativo y semi-cuantitativo rápidos y sencillos.
Facilidad de uso a través de plantillas con métodos pre-definidos basados en la larga experiencia de Shimadzu en XRF. Se pueden crear sencillamente las condiciones óptimas para todo tipo de muestras líquidas, en polvo, etc.