La Difracción de Rayos X en la Minería

En la industria minera, la Difracción de Rayos X o XRD, es utilizada para realizar una identificación rápida de materiales particulados, arcillas y otros minerales. Esta técnica permite entregar información en detalle sobre la estructura cristalográfica de las muestras a analizar.

La Difracción de Rayos X es especialmente necesaria al momento de identificar las fases de grano fino que no son identificables por otros métodos como la microscopía o la espectrometría. Este método entrega un análisis semicuantitativo que permite determinar los porcentajes normativos o de peso de las fases presentes.

Si se requiere obtener un análisis cuantitativo, la Difracción de Rayos X puede combinarse con el método Rietveld (análisis RIR). Gracias a los detectores de alta velocidad, se puede compilar rápidamente los datos de múltiples muestras y con un análisis tipológico de las pautas integrales se puede también diferenciar la población de muestras.

Al momento de realizar un análisis con Difracción de Rayos X, se requiere que la muestra esté en un estado pulverizado, ya que es una manera más fácil de obtener datos mineralógicos para análisis químicos.

Para la realización del análisis XRD Cualitativo, todas las fases identificadas por los análisis XRD se reportan y se agrupan en cantidades grandes, pequeñas y/o mínimas. 

En cambio, para el análisis XRD semicuantitativo, se realiza la misma agrupación que en el Cuantitativo y adicionalmente, las concentraciones de minerales generadas se combinan con un análisis integral de la roca y se presentan en informes.